Microscopía electrónica de barrido de escritorio

NegociableActualización en02/01

modelo

Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

La serie zem de microscopía electrónica de barrido de escritorio, con su tecnología de imágenes y portabilidad, satisface una variedad de escenarios de aplicación. Con su posicionamiento y diseño serializado en el mercado nacional, esta serie de productos ha logrado que los indicadores clave de rendimiento, como la claridad de la imagen, la conveniencia de la operación y la integración del sistema, se integren con las normas internacionales. La serie $r $n $r $nzem, con su alta integración y sus diversas opciones de configuración, hace que la operación sea sencilla e intuitiva y que incluso los no profesionales puedan dominarla rápidamente. Su software de apoyo soporta todo el flujo de trabajo, desde la preparación de muestras hasta el ajuste de parámetros, pasando por el análisis final de imágenes, proporcionando soluciones integradas y eficientes.

Detalles del producto

- parámetros del producto

Indicadores principales	ZEM18
Tensión de aceleración	Máximo 18kv
resolución	Mejor que 6 nm
Ampliación	200000
Tipo de filamento	Alambre de tungsteno de alineación previa
Tiempo de cambio	1min30s
Modo de vacío	高真空 Bajo vacío (1 - 60pa) (opcional)
Rango de movimiento de la Mesa de muestras	Mesa de muestras de dos ejes Mesa de muestras de tres ejes (opcional)
Cámara de navegación	Navegación óptica
Detector	BSE y SE
Ampliar la capacidad	EDS、 Mesa de muestra de desaceleración, Mesa in situ

- características del producto

▲ funciones completas: con una variedad de funciones para satisfacer las necesidades de diferentes usuarios.

▲ bombeo rápido de vacío: el bombeo de vacío se completa en 90 segundos, lo que mejora la eficiencia del trabajo.

▲ imagen fluida: la velocidad de imagen es rápida, sin fantasma ni arrastre, mostrando claramente los detalles de la muestra.

▲ voltaje de aceleración: 3 - 18kv ajustable continuamente, 1kv paso a paso, ofrece opciones de voltaje flexibles.

▲ las señales son diversas: se pueden combinar con tres detectores de señales se, BSE y EDS para realizar el análisis de composición y morfología.

▲ expansión rica: tiene una rica función de expansión in situ, compatible con accesorios de microscopía electrónica in situ autodesarrollados, como mesas de calentamiento, mesas de frío tec, etc.

• casos de fotografía real

桌面扫描电镜

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